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XYR AOI檢測台及其原理
隨著積體電路板上元件數量的增加和單一元件變得更小, 對檢測速度和效率的需求不斷增長. 興趣區 (自動光學檢測) 使用光學成像系統進行自動檢測. 核心技術涉及獲取準確、高品質的光學影像進行處理. 客製化AOI解決方案適用範圍廣泛, 不僅適用於PCB面板檢測，也適用於各種場景, 例如半導體的檢查, 電池產品, 和電子元件.
XYR AOI 檢查台的特性與優勢
1.XYR堆疊結構: 採用空心杯直線馬達直接驅動控制, 消除齒槽效應並確保低速平穩運行 (最小速度波動).
2.DD 端面跳動: 少於 2 微米.
3.組裝後整體平台平整度: 少於 10 微米.
4.全行程重複精度: 小於±1微米.
5.定位精度: 小於±2微米.
技術參數
| 技術參數 | |||
| 軸向 | X軸 | Y軸（雙馬達） | R軸 |
| 持續推力 | 170氮 | 326.8 氮 | 5 牛頓米 |
| 峰值推力 | 850氮 | 1649 氮 | 14 牛頓米 |
| 連續電流 | 4.1 武器 | 4.0 武器 | 1.4 |
| 峰值電流 | 20.7 武器 | 20.0 武器 | 武器4.2 |
| 有效行程 | 160 | 160 | ±15° |
| 載入 | 淨重+5公斤 | X+DD+5公斤 | 5公斤 |
| 速度 | 1 多發性硬化症 | 1 多發性硬化症 | 120 轉速 |
| 加速 | 1G | 1G | – |
| 重複精度 | ±1微米 | ±1微米 | ±1.5角秒 |
| 定位精度 | ±2微米 | ±2微米 | ±3角秒 |
| 直線度 | ±2微米 | ±2微米 | – |
| 平整度 | ±2微米 | ±2微米 | – |
| 端面跳動 | – | – | ±2微米 |
| 整體平整度 | 10 一 | ||
| 安裝方法 | 水平的 | ||
應用
產品到達指定位置後, 它用於測量, 計數, 檢查, 和智慧判斷. 主要應用於各領域, 包括汽車電子, 顯示檢查 (例如數碼管, 液晶螢幕, 和LED顯示器), 藥品, 食物, 精密零件加工, 尺寸測量, 以及產品定位.
產品特點:
1.高精度, 高穩定性直驅結構設計: 確保性能準確穩定.
2.非接觸式高精準度光柵尺: 提供卓越的測量能力.
3.XY軸高精度直線導軌: 確保運動平穩準確.
4.可客製行程, 方面, 和電纜: 依客戶規格客製.
5.配備非接觸式高精準度光柵尺: 提供出色的動態性能, 定位精度, 和重複性.
6.可自訂的配置: 行程選項, 負載能力, 並可客製化特殊結構以滿足客戶需求.
