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XYR AOI检测台及其原理
随着集成电路板上元件数量的增加和单个元件变得更小, 对检测速度和效率的需求不断增长. 兴趣区 (自动光学检测) 使用光学成像系统进行自动检测. 核心技术涉及获取准确、高质量的光学图像进行处理. 定制化AOI解决方案适用范围广泛, 不仅适用于PCB面板检测，还适用于各种场景, 例如半导体的检查, 电池产品, 和电子元件.
XYR AOI 检查台的特点和优势
1.XYR堆叠结构: 采用空心杯直线电机直接驱动控制, 消除齿槽效应并确保低速平稳运行 (最小速度波动).
2.DD 端面跳动: 少于 2 微米.
3.组装后整体平台平整度: 少于 10 微米.
4.全行程重复精度: 小于±1微米.
5.定位精度: 小于±2微米.
技术参数
| 技术参数 | |||
| 轴向 | X轴 | Y轴（双电机） | R轴 |
| 持续推力 | 170氮 | 326.8 氮 | 5 牛米 |
| 峰值推力 | 850氮 | 1649 氮 | 14 牛米 |
| 连续电流 | 4.1 武器 | 4.0 武器 | 1.4 |
| 峰值电流 | 20.7 武器 | 20.0 武器 | 武器4.2 |
| 有效行程 | 160 | 160 | ±15° |
| 加载 | 净重+5公斤 | X+DD+5公斤 | 5公斤 |
| 速度 | 1 多发性硬化症 | 1 多发性硬化症 | 120 转速 |
| 加速 | 1G | 1G | – |
| 重复精度 | ±1微米 | ±1微米 | ±1.5角秒 |
| 定位精度 | ±2微米 | ±2微米 | ±3角秒 |
| 直线度 | ±2微米 | ±2微米 | – |
| 平整度 | ±2微米 | ±2微米 | – |
| 端面跳动 | – | – | ±2微米 |
| 整体平整度 | 10 一 | ||
| 安装方法 | 水平的 | ||
应用
产品到达指定位置后, 它用于测量, 计数, 检查, 和智能判断. 主要应用于各个领域, 包括汽车电子, 显示检查 (比如数码管, 液晶屏, 和LED显示屏), 药品, 食物, 精密零件加工, 尺寸测量, 以及产品定位.
产品特点:
1.高精度, 高稳定性直驱结构设计: 确保性能准确稳定.
2.非接触式高精度光栅尺: 提供卓越的测量能力.
3.XY轴高精度直线导轨: 确保运动平稳准确.
4.可定制行程, 方面, 和电缆: 根据客户规格定制.
5.配备非接触式高精度光栅尺: 提供出色的动态性能, 定位精度, 和重复性.
6.可定制的配置: 行程选项, 承载量, 并可定制特殊结构以满足客户需求.
