LED芯片检验阶段

LED Wick检测平台及其原理

LED芯片检查阶段是用于质量检查LED面板的重要设备. 它确保了外观, 表现, LED面板的可靠性通过一系列技术方法符合所需的标准. 这些平台通常由关键组件（例如框架）组成, LED板, 光学组件, 真空杆, 和定位杆. 它们旨在在不同尺寸的LCD面板上进行外观检查, 提供良好的多功能性和高检测效率.

LED芯片检查阶段的功能和优势:

1.精密线性导轨: 确保运动平稳准确.
2.无凝电机: 提供高效率并降低振动.
3.超高速度稳定性: 高速保持一致的性能.
4.与大型旅行的兼容性, 高精度, 和重载: 旨在以精确和强度处理广泛的应用.
5.超大检查区域: 能够有效检查大表面.
6.可自定义的型号: 在各种型号中可供容纳小小的生产线.

技术参数

技术参数
轴向	X0轴	Y0轴	Y1轴	Z0轴	Z1轴
加载	30 公斤	12 公斤	12 公斤	30 公斤	12 公斤
定位精度	+/- (3+L/250) 一	+/- 15 一	+/- 15 一	12 毫米	12 毫米
				最低限度	最低限度
中风	2050毫米	1400毫米	1400毫米	–	–
线性轴长度	3140 毫米	2000毫米	2000毫米	–	–
滑动桌长度	890 毫米	230 毫米	230毫米	–	–
解决	5 NM或更高	0.1嗯或更好	0.1嗯或更好	0.2 一	0.2 一
加速	0.5G (平均的)@ 66.7% 混蛋	0.5G (平均的)@ 66.7% 混蛋	0.25G (平均的)@ 66.7% 混蛋	50 mm/sec^2	50 mm/sec^2
速度	1000 毫米/秒(最大限度)	1000 毫米/秒 (最大限度)	1000毫米/秒 (最大限度)	–	–
速度波动	0.2% 最大 @Velocity = 400mm/s	–	–	–	–
重复定位精度	+/-1 一	+/-1 一	+/-1 一	+/- 1 一	+/- 0.1 一
垂直直率	+/-15 一	+/-10 一	+/- 12 UM超过全范围	–	–
水平直率	+/- 2 结束 200mm+/- 15 一 超过全范围	+/-10 一	+/- 10 一	–	–
安顿时间	200 MSEC @ 0.2UM P-P	200 MSEC @0.2UM P-P	200 MSEC @0.2UM P-P	–	–

应用

此类检测平台不仅解决了面板行业的检测挑战，还通过显示面板领域将其应用延伸至半导体行业, 下游市场潜力巨大. 随着显示技术向Micro LED技术迈进, 这种高精度检测平台将成为未来显示技术的重要支撑.
特别适合大面板制造行业LED芯片的检测.

产品特点: